第一章 单元测试
1、单选题：
X射线特征谱的产生机理与（ ）有关。
选项：
A:X射线管的阳极靶材的原子结构
B:X射线管的电流
C:X射线管的阴极材料
D:X射线管的电压
答案: 【X射线管的阳极靶材的原子结构】
2、单选题：
倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距（ ）
选项：
A:垂直
B:没有关联
C:相等
D:成倒数
答案: 【成倒数】
3、单选题：
粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（ ）半径的倒易球上。
选项：
A:任意
B:其他选项都不对
C:不同
D:相同
答案: 【不同】
4、判断题：
在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【对】
5、多选题：
关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（ ）。
选项：
A:样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。
B:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。
C:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转θ角。
D:样品台和计数管必须机械连动
答案: 【样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。;机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。】
6、单选题：
X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（ ）。
选项：
A:步进扫描
B:慢速扫描
C:其他选项都不对
D:连续扫描
答案: 【步进扫描】
7、判断题：
当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【对】
8、单选题：
X射线衍射的充分条件是（ ）。
选项：
A:满足布拉格方程且结构因子为零。
B:满足布拉格方程且结构因子不为零。
C:其他选项都不对
D:晶面间距大于等于半波长
答案: 【满足布拉格方程且结构因子不为零。】
9、多选题：
晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（ ）
选项：
A:大小
B:原子种类
C:原子位置
D:形状
答案: 【大小;形状】
10、判断题：
每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【对】
第二章 单元测试
1、多选题：
影响电磁透镜分辨率的因素包括（ ）。
选项：
A:球差
B:像散
C:色差
D:衍射效应
答案: 【球差;像散;色差;衍射效应】
2、判断题：
孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【错】
3、单选题：
透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（ ）的位置来实现的。
选项：
A:聚光镜
B:物镜
C:中间镜
D:投影镜
答案: 【中间镜】
4、判断题：
制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【对】
5、判断题：
产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】
6、多选题：
简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（ ）。
选项：
A:（111）
B:（100）
C:（200）
D:（110）
答案: 【（111）;（100）;（200）;（110）】
7、判断题：
衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【错】
8、多选题：
根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（ ）而变化。
选项：
A:偏离矢量
B:样品厚度
C:样品质量
D:衍射矢量
答案: 【偏离矢量;样品厚度】
9、判断题：
暗场像中位错线的像为亮线。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【对】
第三章 单元测试
1、多选题：
电子束与固体样品作用时，产生的信号有（ ）。
选项：
A:俄歇电子
B:背散射电子
C:二次电子
D:特征X射线
答案: 【
2、单选题：
电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（ ）的增加而增多。
选项：
A:原子序数
B:厚度
C:表面面积
D:表面形貌
答案: 【】
3、判断题：
扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
4、单选题：
在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（ ）。
选项：
A:背反射电子
B:特征X射线
C:二次电子
D:俄歇电子
答案: 【】
5、单选题：
与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（ ）比光镜大100-500倍。
选项：
A:速度
B:景深
C:放大倍数
D:尺寸
答案: 【
6、判断题：
扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【】
7、判断题：
被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【】
8、判断题：
扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
9、单选题：
扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（ ）暗区对应区域的原子序数。
选项：
A:大于
B:其他选项都可以
C:等于
D:小于
答案: 【】
10、单选题：
二次电子像衬度最亮的表面区域是（ ）。
选项：
A:法线与电子束成36°的表面
B:法线与电子束成66°的表面
C:法线与电子束成0°的表面
D:法线与电子束成86°的表面
答案: 【】
第四章 单元测试
1、多选题：
电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（ ）。
选项：
A:分析元素范围广
B:适合粗糙表面工作
C:分析速度慢
D:分辨率高
答案: 【】
2、单选题：
在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（ ）。
选项：
A:XRD
B:WDS
C:EDS
D:EPMA
答案: 【】
3、多选题：
利用电子探针，可以对样品的成分进行（ ）。
选项：
A:定量分析
B:只能定量分析
C:只能定性分析
D:定性分析
答案: 【
4、判断题：
利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
5、单选题：
在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（ ）。
选项：
A:没有
B:中等
C:高
D:低
答案: 【】
6、判断题：
电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
7、判断题：
利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
8、判断题：
电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
9、判断题：
在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【】
10、判断题：
电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【】
第五章 单元测试
1、单选题：
差热分析法的简称为（ ）。
选项：
A:DTA
B:DSC
C:WDS
D:EDS
答案: 【】
2、单选题：
差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（ ）。
选项：
A:吸热峰
B:放热峰
C:基线
D:DTA
答案: 【
3、判断题：
热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
4、多选题：
差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（ ）。
选项：
A:试样结晶度
B:试样粒度
C:试样的装填
D:试样用量
答案: 】
5、判断题：
在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
6、单选题：
热重分析法的简称为（ ）。
选项：
A:TG
B:DTA
C:DSC
D:EDS
答案: 【
7、判断题：
在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
8、判断题：
热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【】
9、判断题：
热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。（ ）
选项：
A:错
B:对
答案: 【】
10、单选题：
（ ）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。
选项：
A:XRD
B:DSC
C:TG
D:DTA
答案: 【】
请先 ！