第一章 单元测试
1、多选题：
1. 第一代和第二代计算机的基本器件分别是（ ）和（ ）。
选项：
A:触发器
B:电子管
C:集成电路
D:晶体管
答案: 【电子管 ;晶体管】
2、单选题：
2．计算机编程经历了（ ）语言、汇编语言、高级语言、面向对象语言等发展过程。
选项：
A:G语言
B:C语言
C:R语言
D:机器语言
答案: 【机器语言】
3、单选题：
3．第一台计算机的名称是（ ）。
选项：
A:Neumann
B:EDIAC
C:ENIC
D:ENIAC
答案: 【ENIAC】
4、单选题：
4．汉字在计算机表示采用的编码是（ ）。
选项：
A:内部码
B:原码
C:ASCII码
D:补码
答案: 【内部码】
5、单选题：
5．ASCII码中0的二进制是（ ）。
选项：
A:0110010
B:1110000
C:0110000
D:0110011
答案: 【0110000】
第二章 单元测试
1、单选题：
1. BIU的指令队列可以存放（ ）个字节的指令代码。
选项：
A:7
B:2
C:5
D:6
答案: 【6】
2、单选题：
2．在8086CPU运行过程中，当取指令时，CPU选择（ ）为段寄存器。
选项：
A:SS
B:ES
C:CS
D:DS
答案: 【CS】
3、单选题：
3．不可屏蔽中断请求是通过CPU芯片的（ ）管脚引入。
选项：
A:INTA
B:INTR
C:READY
D:NMI
答案: 【NMI】
4、单选题：
4．现行数据段位于存储器B0000H～BFFFFH字节单元，则段寄存器DS的内容及该段长度（字节数）分别为：（ ）
选项：
A:B000H，00FFH
B:0000H，0FFFH
C:B000H，0FFFFH
D:B000H，B0FFH
答案: 【B000H，0FFFFH】
5、单选题：
5．8086CPU有（ ）根地址线和（ ）根数据线。
选项：
A:18,10
B:16,20
C:20,20
D:20,16
答案: 【20,16】
第三章 单元测试
1、单选题：
1. 寻址方式中速度最快的是（ ）寻址。
选项：
A:直接寻址
B:寄存器寻址
C:寄存器内部寻址
D:立即寻址
答案: 【】
2、单选题：
2．设（AX）＝ABDFH，则在执行指令“AND AX,0001H”后，AX中的内容为：（ ）
选项：
A:ABDEH
B:FFFFH
C:0001H
D:0000H
答案: 【】
3、单选题：
3．若寄存器AX，BX，CX，DX的内容分别为11，12，13，14时，依次执行PUSH AX，PUSH BX，POP CX，POP DX，PUSH CX，PUSH DX，POP AX，POP BX后，则寄存器AX和BX的内容分别为：（ ）
选项：
A:11，14
B:11，12
C:13，14
D:14，13
答案: 【】
4、单选题：
4．串指令中必须用哪个寄存器作为计数寄存器：（ ）
选项：
A:DX
B:CX
C:BX
D:AX
答案: 【】
5、单选题：
5．哪个段寄存器不能做目的操作数：（ ）
选项：
A:CS
B:DS
C:SS
D:ES
答案: 【】
第四章 单元测试
1、单选题：
1. 逻辑移位指令中，移动次数超过1次则用（ ）寄存器作为计数器。
选项：
A:BH
B:CL
C:CS
D:AX
答案: 【】
2、单选题：
2．换码指令XLAT是复合指令，在执行指令前要将表的偏移地址和被转换码分别送入寄存器（ ）和（ ）。
选项：
A:AX，BL
B:BX，AL
C:AX，CX
D:CX，DL
答案: 【】
3、单选题：
3．串传送指令MOVS的源操作数地址由（ ）：SI指定，目的操作数由ES：（ ）指定。
选项：
A:SS，SP
B:DS，CL
C:CS，DI
D:DS，DI
答案: 】
4、单选题：
4．设（AX）＝1000H，（BX)＝2000H,则在执行了指令“SUB AX，BX”后,标志位CF和ZF的值分别为：（ ） 。
选项：
A:1，1
B:1，0
C:0，0
D:0，1
答案: 【】
5、单选题：
5．在某系统中，已知当前（SS）=2360H，（SP）=0800H，若往堆栈中存20个字节数据，那么SP的内容是（ ）。
选项：
A:07ECH
B:0798H
C:0802H
D:0800H
答案: 【】
第五章 单元测试
1、多选题：
1. 主存储器的主要指标有存储容量、（ ）、（ ）和可靠性。
选项：
A:存储周期
B:存储密度
C:存储频率
D:存取时间
答案: 【】
2、多选题：
2．存储器按存取方式分为（ ）、（ ）和串行访问存储器。
选项：
A:光盘
B:ROM
C:RAM
D:半导体
答案: 【】
3、多选题：
3．存储器的地址译码有两种方式：一种是（ ），适用于小容量的存储器；另一种是（ ），或称复合译码结构。
选项：
A:反向译码
B:纵向译码
C:单译码
D:双译码
答案: 【】
4、单选题：
4．多层存储结构包含（ ）层次和主存–辅存层次。
选项：
A:主存-光盘
B:CACHE-硬盘
C:CACHE-主存
D:主存-硬盘
答案: 【】
5、单选题：
5．下面哪个不是半导体存储器（ ）
选项：
A:EPROM
B:磁芯存储器
C:DRAM
D:SRAM
答案: 【】
第六章 单元测试
1、单选题：
1. 接口要传递的信息有三方面的内容：（ ）、数据和控制信息。
选项：
A:二进制
B:状态
C:电平
D:地址
答案: 【】
2、单选题：
2．I/O端口的寻址方式分为（ ）和I/O映像的I/O寻址。
选项：
A:分开映像
B:内存映像
C:存储器映像
D:硬盘映像
答案: 【】
3、多选题：
3．程序控制传送方式分为 （ ）、（ ） 和（ ）。
选项：
A:同步传输方式
B:中断方式
C:直接存储器存取方式
D:异步查询方式
答案: 【】
4、单选题：
4．异步查询输入方式的联络状态信号线是（ ）。
选项：
A:OBF
B:STB
C:CLEAR
D:ACK
答案: 【】
5、单选题：
5．异步查询输出方式的联络状态信号线是（ ）和OBF。
选项：
A:CLEAR
B:WR
C:RD
D:ACK
答案: 【
第七章 单元测试
1、单选题：
1. 8255A芯片有A口、B口、C口和控制端口共4个端口，（ ）口的端口地址是最小。
选项：
A:B口
B:A口
C:控制端口
D:C口
答案: 【】
2、单选题：
2．8255A芯片编程有（ ）个控制字。
选项：
A:1
B:3
C:2
D:4
答案: 【】
3、单选题：
3．8253芯片的功能主要有定时和（ ）两方面的作用。
选项：
A:中断管理
B:计数
C:地址传输
D:数据控制
答案: 【】
4、单选题：
4．8253芯片中包含3个功能完全相同的计数通道，3个通道和外部电路相连的信号线有3根：CLK、GATE和（ ）。
选项：
A:GND
B:RD
C:CS
D:OUT
答案: 【】
5、单选题：
5．在8253的6种工作方式中,能够自动重复工作的两种方式是：（ ）
选项：
A:方式2,方式4
B:方式1,方式2
C:方式3,方式5
D:方式2,方式3
答案: 【】
第八章 单元测试
1、单选题：
软件中断INT n的优先级别排列原则是（ ）。
选项：
A:用户设定
B:n值越大级别越高
C:无优先级别
D:n值越小级别越高
答案: 【】
2、单选题：
用三片8259A级数是（ ）。
选项：
A:21级
B:24级
C:22级
D:23级
答案: 【】
3、单选题：
8259A中断屏蔽寄存储器的作用是（ ）。
选项：
A:禁止CPU响应外设的中断请求
B:禁止外设向CPU发中断请求
C:禁止NMI中断请求
D:禁止软中断请求
答案: 【
4、单选题：
在正常EOI方式下, 中断结束命令是清除（ ）中的某一位。
选项：
A:IRR
B:ISR
C:IMR
D:程序控制字
答案: 【】
5、单选题：
每片8259A必须要分配（ ）端口地址。
选项：
A:2个
B:4个
C:3个
D:1个
答案: 【】
请先 ！